德國進口OEG接觸角測量儀SURFTENS 200是專為半導體研發的接觸角測量系統，以±0.1°精度、0.2μl液滴控制及360°晶圓掃描能力，1秒內分析表面潤濕性。緊湊設計集成高精度光學系統，支持自動/手動滴液模式，適配200mm晶圓真空無損檢測，精準優化光刻膠附著力與表面能。

德國進口OEG接觸角測量儀 SURFTENS 200是專為半導體研發的接觸角測量系統，以±0.1°精度、0.2μl液滴控制及360°晶圓掃描能力，1秒內分析表面潤濕性。緊湊設計集成高精度光學系統，支持自動/手動滴液模式，適配200mm晶圓真空無損檢測，精準優化光刻膠附著力與表面能。

德國進口接觸角測量儀SURFTENSHL 200 是一款專為半導體行業及研究設計的接觸角測量系統，專注于硅晶圓表面處理工藝控制。它能高效、精確地測量晶圓的潤濕性和接觸角，幫助優化光刻工藝，提高光刻膠附著力，減少缺陷密度。系統具備緊湊結構、高精度光學元件、可調LED照明及多種滴液系統配置選項，支持手動與自動測量模式，提供高重復性與便捷操作，是提升半導體制造工藝可靠性的理想工具。

我們的接觸角測量儀提供了一種快速，可靠，簡單的方法來測量表面液滴的接觸角。 其優惠的價格，緊湊的尺寸，直觀的PC軟件，便捷的操作，使更多的研究人員能夠快速進行這種多功能測量。